Цифровые микроскопы TECHKON, Германия:: Stoklan - Качество Вашей полиграфии

О компании | Новости | Поставщики | Контакты | СПЕЦИАЛЬНОЕ ПРЕДЛОЖЕНИЕ !

	Цифровые микроскопы TECHKON, Германия

Вернуться в категорию

Наименование		TECHKON SpectroPlate Digital Microscope, SpectroPlate All-Vision
Цена, евро		4700.00
Краткое описание		Цифровой микроскоп TECHKON SpectroPlate All-Vision
Полное описание		TECHKON SpectroPlate Digital Microscope Цифровой микроскоп SpectroPlate может использоваться для измерения параметров аналоговых и CTP пластин, а также пленок и печатных оттисков. Измерения: визуальный контроль на встроенном LCD дисплее и на экране PC, относительная площадь растровой точки, линеатура и угол наклона растра. Инструмент применяется для измерения результатов всех видов растрирования - FM, AM и гибридного. Использование освещения широкого спектра позволяет работать со всеми видами пластин. Точность измерений нового прибора обеспечивается качественной оптической системой и совершенными вычислительными алгоритмами, изображение захватывается цветной CMOS матрицей с разрешением 1024 x 1024 пиксел и большим динамическим диапазоном, вычисления осуществляются встроенным микропроцессором. ПЗС: 1024х1024 пиксел, 16 млн.цветов RGB, без компрессии; Апертура: 1х1 мм, сканирование изображения в реальном времени; Источник света: светодиод белого света; Время измерения: 1 секунда; Калибровка: предустановленная фабричная калибровка по шкале FOGRA (FMB), керамический стандарт белого в комплекте; Измеряемая площадь: 0.0 - 100.0 %; Измеряемая линеатура: АМ: 30 - 150 l/cm, 75 - 380 lpi; FM: 10 - 70 микрон; Повторяемость: +/- 0,5 %; Дисплей: монохромный высококонтрастный LCD дисплей, разрешение 240х160 пиксел, 16 градаций серого; Встроенная память: до 100 измерений (только в версии Expert); Источник энергии: Ni-MH аккумуляторная батарея, расчитана на 10.000 автономных измерений; Интерфейс: USB; Совместимось ПО: Microsoft Windows 2000/XP; Вес: 530 г; В комплекте: блок питания с заряднной консолью, USB-кабель, ПО SpectroPlate Connect SpectroPlate All-Vision Характеристики: измерения параметров всех не зависящих от химии пластин, включая беспроцессорные! площадь растровой точки с построением кривой растискивания; геометрический анализ; линеатура; угол наклона растра; память до 100 измерений;

	Доставка

По вопросам заказа материалов и доставки обращайтесь по телефонам:

+7 (495) 517-24-08

+7 (495) 229-22-26

+7 (495) 790-52-93

Факс: +7 (495) 229-22-26

Доставка осуществляется по Москве на следующий день после обращения.

Также можно отправить заявку на электронную почту: sales@stoklan.ru info@stoklan.ru

Peak 2008-100, Микроскоп ув. 100х, шкала (0.8/0.005мм), д.0.84мм, фокус, стекло, футляр

Измерительный микроскоп, шкала (0.8/0.005мм), ув. 100х, д.0.84мм, фокус, стекло, футляр

Полное описание

Peak 1209 WZ3, Лупа складная, метал., ув. 9х, метрическая шкала, 10х10мм, двойная линза, стекло

Лупа складная, метал., ув. 9х, метрическая шкала, 10х10мм, двойная линза, стекло

Полное описание

Peak 2054-100 CIL, Микроскоп ув. 100х с коаксиальной подсветкой, шкала (1.2/0.01мм), д.1.45мм, фокус, стекло, футляр

Измерительный микроскоп с коаксиальной подсветкой, шкала (1.2/0.01мм), ув. 100х, д.1.45мм, фокус, стекло, футляр

Полное описание